Análisis Sem

Los SEM siempre tienen al menos un detector (normalmente un detector de electrones secundarios), y la mayoría tienen detectores adicionales. Las capacidades específicas de un instrumento concreto dependen en gran medida de los detectores que incorpore. Aplicaciones

Amianto Winchite-richterita, Libby, Montana BibliografíaLa siguiente bibliografía puede utilizarse para profundizar en la Microscopía Electrónica de Barrido (MEB) Enlaces relacionadosPara obtener más información sobre la Microscopía Electrónica de Barrido (MEB), siga los siguientes enlaces. Actividades y recursos didácticosActividades didácticas, laboratorios y recursos relacionados con la microscopía electrónica de barrido (SEM). “Espectrómetro de masas de plasma de acoplamiento inductivo multicolector (MC-ICPMS) Difracción de rayos X en polvo (XRD) “

Qué es el microscopio electrónico de barrido

Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio que utiliza un haz de electrones enfocado para escanear la superficie de una muestra y crear una imagen de alta resolución. El MEB produce imágenes que pueden mostrar información sobre la composición y topografía de la superficie de un material.

El microscopio electrónico de barrido produce imágenes detalladas y ampliadas de un objeto mediante el barrido de un haz de electrones enfocado. Su funcionamiento es diferente al de los microscopios electrónicos de transmisión (TEM), ya que el haz de electrones atraviesa directamente el objeto.

Los electrones se crean y disparan mediante un cañón de electrones que se aceleran hacia abajo en el microscopio pasando por una serie de lentes y aberturas creando un haz enfocado que luego interactúa con la superficie de una muestra.

La muestra se coloca en un escenario en la cámara del microscopio antes de que se cree un vacío en la cámara mediante una serie de bombas. El nivel de vacío depende del diseño del microscopio, mientras que algunos microscopios están diseñados para funcionar en entornos de bajo vacío, lo que significa que no es necesario evacuar la cámara.

Caracterización Sem

El microscopio electrónico utiliza un haz de electrones y sus características ondulatorias para ampliar la imagen de un objeto, a diferencia del microscopio óptico que utiliza luz visible para ampliar las imágenes.    Los microscopios ópticos convencionales pueden ampliar la imagen entre 40 y 2.000 veces, pero recientemente se han desarrollado los llamados microscopios de luz de “superresolución” que pueden ampliar las células biológicas vivas hasta 20.000 veces o más.    Sin embargo, el microscopio electrónico puede resolver características que son más de 1 millón de veces más pequeñas.

Los microscopios electrónicos (ME) funcionan como sus homólogos ópticos, salvo que utilizan un haz concentrado de electrones en lugar de fotones para “visualizar” la muestra y obtener información sobre su estructura y composición. Los pasos básicos de todos los ME:

En el TEM, los electrones del cañón de electrones pasan por una lente condensadora antes de encontrarse con la muestra, cerca de la lente objetivo. La mayor parte del aumento se realiza mediante el sistema de lentes objetivo. La imagen se ve a través de una ventana situada en la base de la columna y se fotografía con una película, o más recientemente con una cámara CCD, levantando la pantalla de visualización fluorescente abatible.

Tensión de aceleración Sem

Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra escaneando la superficie con un haz de electrones enfocado. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones se escanea siguiendo un patrón de barrido de trama, y la posición del haz se combina con la intensidad de la señal detectada para producir una imagen. En el modo más común de SEM, los electrones secundarios emitidos por los átomos excitados por el haz de electrones se detectan mediante un detector de electrones secundarios (detector Everhart-Thornley). El número de electrones secundarios que pueden detectarse, y por tanto la intensidad de la señal, depende, entre otras cosas, de la topografía de la muestra. Algunos MEB pueden alcanzar resoluciones superiores a 1 nanómetro.

Las muestras se observan en alto vacío en un MEB convencional, o en bajo vacío o en condiciones húmedas en un MEB de presión variable o ambiental, y en una amplia gama de temperaturas criogénicas o elevadas con instrumentos especializados[1].